Представлен краткий обзор исследований нарушения изначальной структуры лунного грунта, вызванного как искусственными, так и природными факторами. Для выявления таких нарушений используются данные орбитальной фотометрии высокого разрешения в сочетании с методом фазовых отношений, который был разработан авторами. Метод дает возможность оценивать шероховатость светорассеивающией поверхности в масштабах меньше элемента разрешения изображения. Он, в частности, позволяет идентифицировать места осыпей грунта на крутых склонах; он также является эффективным средством поиска новых кратеров, мест падения небольших комет или метеороидных роев. Надежность нового метода доказана детектированием фотометрических аномалий, связанных с изменениями структуры поверхностного слоя реголита в местах посадки космических аппаратов, т. е. там, где влияние человеческой деятельности на реголит Луны известно. Полученные результаты могут быть использованы при планировании и реализации космических миссий к Луне и других безатмосферных тел Солнечной системы космическими агентствами мира.